Esimene rahvusvaheline metroloogianäitus on sädelev ning Panran särab mõõtmis- ja juhtimistoodetega

Mõõtmine on ühiku ühtlustamise ning täpse ja usaldusväärse kvantiteediväärtuse tagamise tegevus, mis on teaduse ja tehnika progressi ning majandusliku ja sotsiaalse arengu vältimatu ja oluline alus.Samal ajal on mõõtmiste arendamise kiirendamine väga oluline teadusliku ja tehnoloogilise innovatsiooni süvendamiseks ning põhilise konkurentsivõime suurendamiseks.

Hiina Kommunistliku Partei 19. Rahvuskongressi partei vaimu paremaks elluviimiseks viige ellu riiginõukogu mõõtmise arengukava (2013–2020), edendage veelgi metroloogiatestide tööstuse edusamme ja ajakohastamist ning parandage igakülgselt üldist Hiinas, 20. mail, mil tähistatakse 20. „maailma metroloogiapäeva”, toimus Hiinas 20. mail metroloogia testimise piirkonna (Shanghai) rahvusvaheline mõõtmistestimise tehnoloogia ja seadmete näitus (CMTE CHINA), mis on Hiina esimene professionaalne üritus. Shanghai ja meie ettevõte kutsuti näitusel osalema.

Sellel näitusel ei edendanud meie ettevõtte enda väljatöötatud tooted, nagu PR293 seeria Nanovolt Microhm termomeeter, PR203/PR205 seeria temperatuuri ja niiskuse mõõtja, mitte ainult eakaaslaste vahelist suhtlust, vaid äratasid ka paljude klientide tähelepanu nii kodu- kui välismaal.



Postitusaeg: 21. september 2022